GB-T2423.1-2008A-低溫試驗方法

GB/T2423.1是GB/T2423標準的*部分，GB/T2423標準的組成部分見(jiàn)資料性附錄NA。

本部分等同采用IEC60068-2-1《環(huán)境試驗  第2-1部分:試驗  試驗A：低溫》（英文版）

本部分與IEC60068-2-1:2007相比，主要做了下列編輯性修改：

---本部分為的名稱(chēng)改為：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第二部分：試驗方法  試驗A：低溫》

---“本標準”一詞改為“本部分”；

---刪除了IEC60068-2-1:2007前言；

---刪除了IEC60068-2-1:2007引言，將其內容轉化為增的資料性附錄NB的內容；

---增加了資料性附錄“GB/T2423標準的組成部分”（見(jiàn)附錄NB）；

---增加了資料性附錄“試驗A:低溫和試驗B：高溫的分類(lèi)代號小寫(xiě)字母之間的關(guān)系”（見(jiàn)附錄NB）

---刪除了第1章第1段中的“對于非散熱試驗樣品”；

---第1章中zui后兩段的內容移到4.1中；

---4.3標題“非散熱試驗樣品”改為“非散熱試驗樣品的試驗”；

---6.2zui后一段原文為正文，本部分改為注。

為清晰起見(jiàn)，上述修改已在正文相應位置加了腳注。

本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分：試驗方法  試驗A：低溫》，與之相比，主要變化如下：

---刪除了試驗Aa：非散熱試驗樣品溫度突變的低溫試驗；

---刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；

---增加了試驗Ae：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗一試驗樣品在整個(gè)試驗過(guò)程通電。

本部分的附錄NA、附錄NB為資料性附錄。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會(huì )（SAC/TC8）提成并歸口。

本部分有廣州電器科學(xué)研究院負責起草。

本部分主要起草人：張志勇。

本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為；

-------CB/T2423.1一1981、CB/T2423.1一1989、CB/T2423.1一2001.