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產(chǎn)品中心

芯片PCT老化試驗箱

簡(jiǎn)要描述:芯片PCT老化試驗箱廣泛應用于線(xiàn)路板,多層線(xiàn)路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐厭性,氣密性。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間:2024-05-07
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:759
詳情介紹

  芯片PCT老化試驗箱材質(zhì):

  1.試驗箱尺寸:PCT-45(∮400mmxL600mm)圓型試驗箱

  2.全機外尺寸:900x700x1600mm(W*D*H)立式

  3.內桶材質(zhì):不銹鋼板材質(zhì)(SUS#3163mm)

  4.外桶材質(zhì):不銹鋼板材質(zhì)或選噴塑

  5.保溫材質(zhì):巖棉及硬質(zhì)polyurethane發(fā)泡保溫

  6.蒸汽發(fā)室加熱管:鈦管加熱,不生銹。

  芯片PCT老化試驗箱控制系統:

  1.采用臺制臺達彩色觸控式PLC控制濕度和蒸汽溫度(采用PT-100白金感溫體).

  2.采用指針顯示壓力表.

  3.微電腦P.I.D自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度和蒸汽濕度.

  4.手動(dòng)入水閥(自動(dòng)補水功能,可不停機連續試驗).

  PCT老化試驗箱滿(mǎn)足標準

  1.GB/T10586-1989濕熱試驗室技術(shù)條件;

  2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗;

  3.MIL-STD810D方法502.2;

  4.GJB150.9-8溫濕試驗;

  5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環(huán)試驗;

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