HAST高度加速老化試驗箱

　　HAST高度加速老化試驗箱用途：又稱(chēng)高壓加速老化試驗箱，適用于國防、航天、汽車(chē)部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線(xiàn)路板，多層線(xiàn)路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗，使用于在產(chǎn)品的設計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節。

　　測試其制品的耐厭性，氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會(huì )沿者膠體或膠體與導線(xiàn)架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統的壽命試驗時(shí)間、

　　試樣限制本試驗設備禁止：易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存。腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或儲存。強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存。

　　HAST高度加速老化試驗箱性能：

　　1、測試環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、

　　2、 溫度范圍 105℃ → +132℃、 (控制點(diǎn))

　　3、 溫度波動(dòng)度 ±0、5℃、

　　4、 溫度偏差 ±2、0℃、

　　5、 濕度范圍 75% ～ 100 %R、H 、 (控制點(diǎn))

　　6、 濕度波動(dòng)度 ±2、5 %R、H、

　　7、 濕度均勻度 ±5、0%、

　　8、 壓力范圍 0、5～2㎏/㎝2 (0、05～0、196 MPa) (控制點(diǎn))

　　9、 升溫時(shí)間 常溫 → + 132℃ 35 min 、

　　10、 升壓時(shí)間 常壓 → + 2㎏/㎝2 40 min

　　高度加速老化試驗箱的特點(diǎn)：

　　1、計時(shí)安裝，LED數字型計時(shí)器，當鍋內溫度達到后計時(shí)器確保試驗*，計時(shí)從表格1驅動(dòng)。

　　2、Jing準的壓力，溫度表隨時(shí)顯示鍋內壓力與溫度，Jing準壓力+0、2~2、0kg/cm2、

　　6、試驗開(kāi)始前使用真空泵抽真空，將機器原來(lái)的空氣抽出并過(guò)濾與至新鮮空氣一切完整開(kāi)始試機。

　　4、箱內經(jīng)過(guò)拋光處理經(jīng)久耐用、美觀(guān)、不沾污。

　　5、運轉時(shí)流水自動(dòng)排出未飽和蒸汽已達到飽和。

　　6、異常原因及故障指示燈顯示，設置自動(dòng)保護LIMIT安全。