光纖pct老化試驗箱

　　光纖pct老化試驗箱產(chǎn)品滿(mǎn)足標準

　　1、GB/T10586-1989濕熱試驗室技術(shù)條件;

　　2、GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗;

　　3、MIL-STD810D方法502.2;

　　4、GJB150.9-8溫濕試驗;

　　5、GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環(huán)試驗;

　　pct老化試驗箱特性：

　　1、試驗過(guò)程自動(dòng)運轉至完成結束、使用簡(jiǎn)便。

　　2、雙重過(guò)熱保護裝置，當鍋內溫度過(guò)高時(shí)，機器鳴叫警報并自動(dòng)切斷加熱電源。

　　3、LED數字型溫度控制器可作試驗溫度之設定、控制及顯示，PID控制誤差±0.1℃。

　　4、LED數字型定時(shí)器，當鍋內溫度到達后才開(kāi)始計時(shí)以確保試驗*。

　　5、壓力、溫度對照顯示。

　　6、運轉時(shí)流水器自動(dòng)排出未飽和蒸汽以達到蒸汽質(zhì)量。

　　7、試驗過(guò)程中水位不足時(shí)能自動(dòng)補充水位之功能，試驗不中斷，確保使用。

　　8、鍋內裝置，鍋門(mén)若未關(guān)緊則機器無(wú)法啟動(dòng)。

　　9、閥，當鍋內壓力超過(guò)工作值自動(dòng)排氣泄壓。

　　10、門(mén)蓋保護，ABS材質(zhì)制成可防止操作人員接觸燙傷。

　　光纖pct老化試驗箱產(chǎn)品用途：

　　pct老化試驗箱又稱(chēng)為高壓加速老化試驗箱，適用于國防、汽車(chē)部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線(xiàn)路板，多層線(xiàn)路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗，使用于在產(chǎn)品的設計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節。測試其制品的耐厭性,氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會(huì )沿者膠體或膠體與導線(xiàn)架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。pct老化試驗箱的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統的壽命試驗時(shí)間.