hast老化試驗箱國家標準產(chǎn)品詳情 用于調查分析何時(shí)出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗。隨著(zhù)半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長(cháng)期的THB試驗而不會(huì )產(chǎn)生失效，因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測試時(shí)間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時(shí)間，采用了壓力蒸煮鍋試驗方法。

福永hast老化試驗箱容積產(chǎn)品技術(shù)參數： 控制方式：微電腦控制 時(shí)間控制：LED顯示器 加壓時(shí)間:0.00Kg～1.04Kgcm2約45分鐘內 壓力范圍：0~2.5Kg/cm2（內桶設計耐壓3.5Kg/cm2）

湖南hast老化試驗箱標準適用于國防、汽車(chē)部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗，使用于在產(chǎn)品的設計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節。

芯片高溫高濕高壓試驗箱用于在產(chǎn)品的設計階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節，適合電子、電器、車(chē)輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化

飽和加速壽命老化試驗箱用途：使用于在產(chǎn)品的設計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節，適合電子、電器、車(chē)輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。